法人のお客様
自動マクロ検査装置

AMI-5700

特長

特長 1
全数検査によるランダム欠陥の捕捉
特長 2
様々な検査用途を一台で
散乱検査(ウェハ表面の暗視野検査)、回折検査(露光機起因のFocus/Dose不良を回折光により検出)、正反射検査(コーター、デベロッパー起因の塗布不良検査)、裏面検査(裏面の暗視野検査も同時に実施)、下地層影響軽減(下地層のCMPによる段差影響を最小化)、学習機能(各検査モードで良品画像を学習し欠陥を自動検出)
特長 3
検査と計測を同時に実現
従来の検査機能に加え、CD計測、膜厚計測、Focus計測も同時に実現。あなたの検査工程に革新をもたらします。
SEM(計測点 101点(Shot1点)、計測時間 約6分30秒)、AMI-CD計測(計測点 22900点(Shot225点)、計測時間 1分) SEMとの相関値が高い
CD計測機能
膜厚計(計測点 101点(Shot1点)、計測時間 約3分30秒)、AMI-膜厚計測(計測点 1705点(Shot15点)、計測時間 1分) 膜厚計との相関値が高い
膜厚計測機能
AMI-CD計測(計測点 59855点(Shot756点)、計測時間 1分)
フォーカス計測機能

お問い合わせ

株式会社ニコン
精機事業本部 半導体装置事業部

本ページに掲載したすべての製品および製品の技術(ソフトウェアを含む)は「外国為替および外国貿易法」に定める規制貨物等(特定技術を含む)に該当します。輸出する場合には政府許可取得等適正な手続きをお取りください。(半導体検査装置を除く)


関連情報